溝付きフェルールを採用したSC形光コネクタ
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概要
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光コネクタの経済化の追求が進む中、高信頼性の要求がますます高まりつつある。特に、繰り返し着脱による耐久試験で、ゴミ等の発生による損失増加の問題が残されたままになっている。我々は、フェルールの外周面を溝付きにすることにより、繰り返し着脱による性能向上を得たのでその結果を以下に報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-09-18
著者
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