XPM法による非線形定数測定における誘導ラマン散乱の影響の考察
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概要
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近年、ファイバ中の非線形現象の定量評価が必要となっており、現在までに非源形屈折率を測定する幾つかの方法が提案されている。特に、自己位相変調による方法と相互位相変調による方法は、詳細な検討結果が報告ざれている。しかし、求めた非線形屈折率の値が両者の方法で異なっており、現在もその原因は完全に明確にはなっていない。そこで、今回XPM法による測定で問題となりうる誘導ラマン散乱の影等について考察し、その影響を定丑的に評価したので報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-09-18
著者
-
末次 義行
住友電気工業株式会社
-
西村 正幸
住友電気工業株式会社
-
奥野 俊明
住友電気工業株式会社
-
西村 正幸
住友電気工業 横浜研
-
末次 義行
住友電気工業株式会社横浜研究所
-
奥野 俊明
住友電気工業(株)光通信研究所
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