水素雰囲気下におけるEr添加ファイバの長期信頼性
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概要
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Er添加ファイバについて高温水素試験を行い,水素雰囲気下での長期使用時の水素誘起損失および利得劣化量を予測した.Al添加量0〜3wt%のEr添加ファイバについて水素誘起損失の定式化を行った結果,温度40℃,水素分圧0.001atm,使用期間25年での波長1.55μmにおける伝送損増加量は,Alを添加しない場合ではほとんどなく,Al添加量1wt%の場合で0.04dB/20m,Al添加量3wt%の場合で0.08dB/20mと予測されることがわかった.更に,水素雰囲気下での利得の劣化は背景損失の増加で説明できること,また,前記条件での利得の劣化量はAl添加量1wt%の場合で0.07dB,Al添加量3wt%の場合でも0.15dBと予測され,実使用上問題の無い耐水素特性を有していることを明らかにした.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-06-25
著者
-
大西 正志
住友電気工業(株)
-
重松 昌行
住友電気工業株式会社
-
西村 正幸
住友電気工業株式会社
-
金森 弘雄
住友電気工業株式会社
-
西村 正幸
住友電気工業 横浜研
-
柏田 智徳
住友電気工業株式会社
-
角井 素貴
住友電気工業株式会社
-
小谷野 裕史
住友電気工業株式会社
-
金森 弘雄
住友電気工業
-
大西 正志
住友電気工業
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