酸化膜CMPにおける面内均一性向上技術の開発 : エアー加圧方式キャリアーとパッド加圧リングの開発
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概要
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酸化膜CMPにおいて, 新構造のエアー加圧方式キャリアーとパッド加圧リングを開発し, ウェハー面内の均一な加圧とin-situでの研磨パッド表面のプロファイル制御を実現した. 両技術を用いることにより, 単層の硬質パッドを用いた時にも, ダイヤモンド・ドレッサーを用いたパッドプロファイルの制御なしで, 面内均一性の優れたCMPを達成することができた. さらに, ドレッシングの簡略化により, 1000枚以上にわたる面内均一性の安定化を実現した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-01-24
著者
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真弓 周一
松下電子工業(株)半導体事業本部プロセス開発センター
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西尾 幹夫
松下電器産業株式会社半導体研究センター
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村上 友康
松下電器産業株式会社半導体研究センター
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佐竹 光成
松下電器産業株式会社半導体研究センター
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真弓 周一
松下電器産業株式会社半導体研究センター
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