DSPを用いた半導体レーザの線形光周波数掃引法

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概要

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半導体レーザを光源に用いたFMCW Reflectometryにおける空間分解能向上を目的として、半導体レーザの直接周波数変調による光周波数掃引の線形化法について述べた。この方法は、半導体レーザの光周波数変化の遅れをDSPを用いて補正する方法である。まず、補正に必要な半導体レーザの光周波数変化のインパルス応答を実験により求めた。この測定結果に基づき、1次近似したディジタルフィルタ法と、インパルス応答を用いて計算した光周波数掃引波形の線形性からのずれを変調波形に加える方法により、線形な光周波数掃引を得た。この光源をFMCW Reflectometryに適用し、光ファイバや光導波路の内部診断に適用できることを示した。
社団法人電子情報通信学会の論文
1995-05-26

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