狭線幅半導体レーザを用いた中距離FMCWリフレクトメトリ
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
光導波路や光ファイバの内部診断法であるFMCWリフレクトメトリは, 光の干渉を用いるので, 診断可能距離は光源の可干渉距離で制限される。ここでは, 診断可能距離を延長するため, 狭線幅の半導体レーザを用いたシステムについて報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-06
著者
関連論文
- Agイオン交換法によるEr/Yb共ドープ光導波路型光増幅器の作製とその光増幅特性
- Erドープ光ファイバリングレーザのスペクトル特性の測定
- SC-11-8 金属-半導体-金属構造による高速光検出器の検討
- 第一原理計算による(100)InP表面の電子状態解析
- ブリルアン/エルビウム光ファイバレーザの構成と発振特性
- ブリルアン / エルビウム光ファイバレーザの発振特性
- 狭線幅半導体レーザを用いた中距離FMCWリフレクトメトリ
- (34)金沢大学電気・情報工学科における情報教育について(第10セッション 教育システム(V))
- 方形波重畳三角波変調による半導体レーザの線形光周波数掃引とそのFMCWリフレクトメトリへの応用
- 方形波重畳三角波変調による半導体レーザの線形光周波数掃引とそのFMCWリフレクトメトリへの応用
- FMCWリフレクトメトリのための半導体レーザの線形光周波数掃引 : ディジタルフィルタによる実現
- FMCWリフレクトメトリのための半導体レーザの線形光周波数掃引 : ディジタルフィルタを用いた実現
- 波長可変周波数シフト帰還型光ファイバレーザによる光ファイバの波長分散測定
- 周波数シフト帰還型光ファイバレーザによる光ファイバの群速度分散測定
- コヒーレントOFDRによるErドープ光ファイバ増幅器の利得分布測定
- 外部共振器レーザを用いた光ファイバ診断用FMCWリフレクトメトリ
- DSPを用いた半導体レーザの線形光周波数掃引法
- FMCW Reflectometryのための半導体レーザの線形光周波数掃引法 : DSPを用いた実現
- 最大エントロピーを用いた高分解能FMCWリフレクトメトリ(第2報)
- 最大エントロピーを用いた高分解能FMCWリフレクトメトリ
- 最大エントロピー法を用いた高分解能FMCWリフレクトメトリ
- 光周波数掃引の非線形性によるFMCW Reflectometryの空間分解能劣化に関する一考察
- Erドープ光ファイバリングレーザの発振特性の帰還率依存性
- 光周波数掃引の非線形性によるFMCW Reflectometryの診断性能劣化に関する一考察
- FMCW法センシングシステムのための線形光周波数掃引半導体レーザ光源
- 周波数多重化によるコヒーレンス多重センサの信号分離法(第2報)
- 電界イオン交換法によるErドープガラス光導波路の作製
- 同期サンプリングFMCWリフレクトメトリの測定可能距離延長