光周波数掃引の非線形性によるFMCW Reflectometryの診断性能劣化に関する一考察
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概要
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半導体レーザを光源に用いたFMCW Reflectometryにおいて、光周波数掃引の非線形性が診断性能に及ぼす影響について、実験的および理論的検討を行った。半導体レーザの光周波数変化の応答の遅れを実験により求め、その応答の遅れを考慮してFMCW Reflectometryの出力信号の解析を行った。その結果、光周波数掃引の折り返し点直後に顕著に応答の遅れが生じてその部分の干渉信号のビート周波数が低くなり、その結果、干渉信号スペクトルは低周波側に広がり、空間分解能が劣化することがわかった。また、診断位置が遠いほど非線形性の影響を大きく受け、空間分解能がより劣化することもわかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-05-23
著者
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