電位像を用いたロジックLSIの故障箇所絞り込み手法の応用
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概要
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大規模化、高集積化するロジックLSIの故障解析において、故障箇所の特定化はますます困難なものになり、多大な時間を要している。NECで開発した電位像によるLSIの故障解析手法(ICFAN)はこの解析時間の短縮に効果的な手法である。本手法をいろいろな品種のロジックLSIに適用し、90%以上の回路絞り込みに成功し、その有効性を実証した。また電源ON, OFF法やAFI法の適用例も示し、その効果も示した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-03-18
著者
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小西 永二
日本電気株式会社材料部品分析評価センター
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中村 豊一
NEC材料部品分析評価センター
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小西 永二
NEC材料部品分析評価センター
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加藤 正次
NEC
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花釜 康子
NEC
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平田 幸雄
NEC真空硝子
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大金 秀治
NEC真空硝子
-
大金 秀治
Nec デバイス分析評価技セ
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