LSI機能検証パタンの品質評価ツール

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概要

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• 機能検証パタンの新しい品質評価方法について報告する。設計対象のHDL記述に含まれる条件分岐のテストパタンによる網羅率を測定する方法を考案し、PARTHENON[1]システムにプロトタイプツールとして組み込んでその有効性を確認した。従来実施されてきた設計者の経験から勘によって設計したテストパタンの品質を、実際の設計事例を用いて評価してみると、平均13%の未検証箇所を残していることが明らかとなった。さらに、ツールの示す解析情報によって特定した未検証の設計箇所から論理設計バグを発見することができた。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1996-03-07

著者

• 青木 孝

  富士通株式会社

• 鳥山 朋二

  Ntt Lsi研究所

• 青木 孝

  NTT LSI研究所

• 石川 啓二

  NTT LSI研究所

• 深見 健之助

  NTT LSI研究所

• 青木 孝

  順天堂大学医学部熱帯医学・寄生虫病学講座

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