遅延故障テストにおけるテストパス選択手法の検討
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概要
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集積回路の高速化・微細化に伴って、遅延が原因で要求される動作速度では正しく動作しない故障 (遅延故障) が問題となる. このため、遅延故障テストの重要性が高まっている. 遅延故障テストを行う際に問題となるのは、テストパスの選択手法である. 本研究では、遅延の計算誤差やプロセス変動による、設計上の遅延と実遅延の誤差を考慮した、テストパス選択手法を提案する. また、選択すべきテストパス数と、遅延誤差及びテストによって保証すべき動作速度との関係について検討を行う.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-10-29
著者
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寺元 光生
日本電信電話(株)未来ねっと研究所
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寺元 光生
Ntt光ネットワークシステム研究所
-
谷 誠一郎
NTT光ネットワークシステム研究所
-
深沢 友雄
NTTフェニックス通信網(株)
-
松広 一良
日本電信電話(株)未来ねっと研究所
-
松広 一良
NTT光ネットワークシステム研究所
-
深澤 友雄
NTT光ネットワークシステム研究所
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