バウンダリスキャンを用いたボート上でのフルスキャンテスト法
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概要
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ボードテストのためには、搭載されたチップ間の接続テストと各チップの内部ロジックの故障検出が必要である。前者はIEEE 1149.1 (バウンダリスキャン-BS) 標準チップにより実現が容易となったが、後者はチップのテスト回路に依存するので、系統的なテスト手法の確立は困難であった。そこで我々は、チップのフルスキャン・テストパタンを用いてボード搭載後のチップ内部ロジックのテストパタンを生成するシステムを新たに開発した。本報告では、チップ用フルスキャン・テストパタンをボードテストパタンに編集する際の問題を解決する手法について述べる。すなわち、1) チップ外部ピンに対するパタンのBSレジスタへの割り付け、2) BS命令によるボード上のバス衝突回避方法、3) TAP (Test Access Port) 制御によるスキャンテストについて報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-10-29
著者
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