AC-PDPにおける放電遅れ特性の測定

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概要

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電圧の印加から放電の発生までの遅れ時間(放電遅れ時間)は、偶発的な初電子発生までに経過する統計遅れ時間tsと初電子発生から絶縁破壊までに必要な形成遅れ時間tfとから成る。tsのばらつき度合い、または発電子生成の割合として放電確率P_0を定義することができる。実際のAC-PDPを使って、書き込み放電の際の放電遅れ特性(放電確率P_0、形成遅れ時間tf)を測定した。予備放電の直後、P_0は指数関数的に減衰し(短寿命成分)、その後は1/(at+b)形状で減衰する(長寿命成分)。長寿命成分は、維持放電の頻度にも依存しており、維持放電回数が多いほど大きくなる。
社団法人電子情報通信学会の論文
2001-01-22

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