MgOの2次電子放出係数測定
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概要
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AC-PDPの保護膜として用いられているMgOについて、2次電子放出係数(γ)測定装置を構築し、測定を行った。くり返しの測定精度、時間安定性とも測定ばらつき5%以内に収まった。この系を用い、金属(銅)およびMgOの2次電子放出特性を測定した。CuとMgOの2次電子放出特性の差から、金属と絶縁物の2次電子放出の違いについて述べる。また、イオン加速電圧とγ、加熱活性化とγの関係を測定した。更に、2次電子放出メカニズムを解明するため、2次電子放出のエネルギー分布の測定を行い、金属と、絶縁物の分布の差異、分布に対する表面電位の影響を議論する。
- 1999-01-21
著者
-
石本 学
篠田プラズマ株式会社
-
篠田 傳
株式会社富士通研究所
-
篠田 傳
(株)富士通研究所
-
別井 圭一
株式会社 富士通研究所 ディスプレイ研究部
-
別井 圭一
株式会社富士通研究所
-
別井 圭一
(株)富士通研究所ディスプレイ研究部
-
別井 圭一
(株)富士通研究所
-
篠田 博
株式会社富士通研究所
-
石本 学
(株)富士通研究所
-
日高 総一郎
(株)富士通研究所
-
篠田 傅
(株)富士通研究所
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