BAM系蛍光体の構造劣化 : TEMによるX線、紫外線照射時の構造変化観察
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概要
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プラズマディスプレイパネル(PDP)に用いられる青蛍光体BaMgAl_<10>O_<17>:Eu^<2+>はパネル駆動時の輝度劣化率が赤、緑蛍光体と比較して大きく、劣化率改善が課題になっている。本発表では、劣化メカニズムを解明する為に、X線、真空紫外線を照射した時の蛍光体表面の構造変化をTEMにより直接観察した結果を報告する。
- 2000-01-27
著者
-
石本 学
(株)富士通研究所
-
岩瀬 信博
富士通日立プラズマディスプレイ
-
岩瀬 信博
富士通日立プラズマディスプレイ(株)
-
只木 進二
富士通日立プラズマディスプレイ(株)
-
福田 晋也
(株)富士通研究所
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