ラビングした高分子配向膜における液晶の表面配向状態の解析

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概要

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液晶デバイスを製作する上で、ラビングは液晶分子を配向させるために重要な基礎技術として広く用いられている。しかしこの方法は経験的に見だされた手法であり、その配向機構に関して不明な点が少なくない。本研究ではラビングによる液晶分子の表面配向機構を解明するために、フーリエ変換式赤外分光高度計(FT-IR)を用いて赤外吸収異方性の厚さ依存性を測定し、バルクから界面まで液晶分子のオーダーパラメータを連続的に解析した。この結果、オーダーパラメータは表面に近づくに従って、低下することを実験ではじめて明らかにした。また、表面のオーダーパラメータは非常に強くラビングを施した場合でも非常に低いことを明らかにした。
社団法人電子情報通信学会の論文
1998-06-12

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