FDTD法によるTEMセルの解析
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概要
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TEMセルは、容易にTEM波が得られるため電子機器のイミュニティ(EMI)試験に用いられる。このようなイミュニティ試験では、電界の均一性が問題となる。また、TEMセルの同軸ケーブルを矩形に拡張した構造から、反射等による特性の悪化が予想される。このため、TEMセル内の電界均一性の検討を、FDTD(Finite-Difference Time-Domain)法を用いておこなった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-03-11
著者
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