高周波領域におけるプリント配線基板の周波数特性評価手法(ギガビット高速信号伝送技術)(<特集>最近の半導体パッケージと高速伝送・高周波実装技術論文特集)
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概要
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プリント配線基板において高速シリアル差動信号伝送が行われるケースが増えてきた.これらの基板設計に際しては,事前に配線特性やEyeパターンを解析し,伝送可能性を確認することが重要である.解析に際して考慮すべき周波数範囲は,数MHzから10GHz以上の広い範囲に及ぶ.このため,解析の前提である基板材料特性や基板配線特性は,周波数依存性を考慮する必要がある.しかし現状の測定方法では,周波数依存性を,広い周波数範囲で精密に測定することが困難である.本論文では,Sパラメータ測定で得た通過位相からTRL法と時間Gating法により比誘電率(実部)の周波数依存性を求めた.また,TDR測定から特性インピーダンスの周波数依存性を求める手法を新たに提案する.更に,この手法をプリント配線基板に対して適用し,周波数依存性を算出可能であることを示す.また従来の手法と比較し,提案する手法が有効であることを示す.
- 2004-11-01
著者
-
大橋 英征
三菱電機株式会社
-
斉藤 成一
三菱電機(株)情報技術総合研究所
-
斉藤 成一
三菱電機株式会社情報技術総合研究所
-
斉藤 成一
三菱電機株式会社
-
大橋 英征
三菱電機(株)情報技術総合研究所
-
山岸 圭太郎
三菱電機株式会社
-
山岸 圭太郎
三菱電機(株)情報技術総合研究所
-
斉藤 成一
サレジオ高専
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