薄膜ディスクにおける記録・再生にじみ
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概要
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薄膜ディスクにおける記録・再生にじみの評価を行い,記録ヘッドの形状が記録トラックに与える影響について検討した.記録トラックの両側をDC消去したマイクロトラックのクロストラックプロファイルを測定した.その結果,薄膜ヘッドの再生にじみは線記録密度に大きく依存すること,幅広のシールドではさまれたMRヘッドの再生にじみは線記録密度にほとんど依存しないことなどがわかった.また薄膜ヘッドの記録にじみは線記録密度にほとんど依存しないことがわかった.さらに記録へッドポールの形状によるヘッド磁界の広がりについて検討した結果,上部ポールと下部ポールのトラック幅が等しいヘッドはヘッド磁界の広がりが小さく記録にじみが小さいことがわかった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-02-26
著者
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