14MeV中性子放射化法によるケイ素,炭化ケイ素,窒化ケイ素中の酸素の定量

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概要

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ケイ素,炭化ケイ素,窒化ケイ素中の酸素を14MeV中性子放射化法で分析するときの問題点について検討した.ケイ素からは^<28>Si(n,p)反応で多量の^<28>Alを生成するので,分析の感度,精度向上の目的で試料を過剰にとる,14MeV中性子束密度を上げる,又は大型のヨウ化ナトリウム検出器を使用するなどのときは偶然計数によって^<16>Nの測定を妨害するおそれがある.このため^<28>Alの飽和壊変率を目安として試料採取量,^<14>MeV中性子束密度を定め,特に著しく^<16>Nの測定を妨害する三重偶然計数を生じないようにした.偶然計数で問題となるのは^<28>Al-^<28>Alで,その見掛けの半減期は69.3sで,この値をγ線の壊変曲線を解析する際の因子に追加して良好な結果を得た.分析には外部標準法を用い,1試料約4.5分間で分析できた.
社団法人日本分析化学会の論文
1980-10-05

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