X線マイクロアナライザーによるアンチモンを含む酸化物-硫化物及び複酸化物中の酸素の定量分析
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概要
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X線マイクロアナライザー(XMA)によりアンチモンを含む酸化物-硫化物,及び複酸化物中の酸素の定量分析法を検討した.酸素に関しては分光結晶を一定間隔でシフトさせ,0.035Å間隔で22.05Åから25.515Åまで各点で5秒間測定した.このとき,高次線の影響を除くために波高分析器(PHA)を使用した.OK_α線の強度にはバックグラウンドを差し引いた面積をあてる方法がよい結果を与えた.他の元素はピーク高さを強度とした.これらにプローブ電流による補正を施し,更に吸収補正(Simple Pbilibertの式),原子番号補正(Bishop-Springerの式),けい光補正(Casting-Reedの式)を行った.酸素の測定には標準試料として酸化アンチモン(III)(合成)を用いた.又,OK_α線強度の変動率は5回の測定で1.09%であった.この分析では,酸素分析値の理想組成に対する相対誤差は五つの試料において,-4.42%から+7.84%であった.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 1979-11-05
著者
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