X線光電子分光法, X線回折法, 示差走査熱量分析法を用いたナイロン66の熱劣化分析
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概要
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ナイロン66の熱劣化挙動を解析するためX線光電子分光法を主体に各種分析法を用いて分析した.試料は充てん剤や添加剤などを含まないナイロン66を用い80〜150℃の間の温度下で熱劣化された試料の表面及び深さ方向分析を行った.その結果, 以下の知見が得られた.(1)ナイロン66の熱劣化反応としては, カルボニル基を生成し, 結晶化の割合を増加させる反応が起こっており, この傾向は最表面層ほど顕著である.更に, 120℃での熱劣化においては, 最表面層ではカルボキシル基を生成する反応も同時に起こっていることが確認できた.(2)ナイロン66の熱劣化反応は100〜120℃を境に多少異なり, 120℃以上ではカルボキシル基の生成を伴う反応が起こっていると推定された.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 1990-01-05
著者
-
芦田 正
日産自動車(株)テクニカルセンター 車両技術開発本部 材料技術部
-
志智 雄之
(株)日産アーク
-
井上 靖秀
日産アーク:山梨大クリスタル科研
-
志智 雄之
(株)日産アーク研究部
-
芦田 正
日産自動車
-
有田 雅晴
日産アーク
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