ソフトウェアの信頼性 : テストラン試行 : 回数と信頼度成長過程

概要

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ソフトウェア開発のテスト段階は,作り込まれたソフトウェアエラー(以下エラーと略す)の除去作業により,開発結果としての品質・信頼性を最終的に確認する重要な工程となっている.この工程では詳細な計画の下にテストケースの作成・テストラン・エラーの発見と修正・テスト結果の解析が実施される.従来から,テスト結果をもとにソフトウェアの信頼性評価を行なう信頼性モデルとして,ソフトウェア信頼度成長モデルが提案されてきた.これは,テストに費やされたカレンダー時間やCPU時間などの連続的時間と発見された総エラー数の関係によりエラー発見過程を記述し,それをソフトウェアの信頼度成長過程として把握するものである.本研究では,エラー発見期間の単位をテストラン試行回数などの離散的時間とするソフトウェア信頼度成長モデルについて議論する.モデルを一般的に記述した上で, 具体的なソフトウェア信頼性評価のために,幾何減少型エラー発見率モデル(geometrically decreasing error detection rate model)を提案する.また実際問題への応用として,ソフトウェアの最適リリース政策についても考察する.
一般社団法人情報処理学会の論文
1986-10-01