固有初期値伝播法を用いた部分スキャン回路のテスト生成

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概要

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• 本論文では, 故障の影響により記憶素子に値が設定できなくなる故障を検出するテスト生成および故障シミュレーション方式について述べる. 故障の影響により初期状態が設定できなくなる記憶素子nそれぞれに, 故障回路での固有な初期値X_nを与え, 故障の影響O/X_n (正常回路の値/故障回路の値)および1/X_nを観測することにより, 従来検出できなかった記憶素子のクロックをOFFにする故障を検出する. 本手法を非スキャン同期回路5品種および部分スキャン回路7品種に適用した結果, 固有初期値X_nを使用することにより, 故障検出率は非スキャン同期回路で平均4・49%, 部分スキャン回路で1.78%改善できた. また, 固有初期値を使用することにより, 実行時間は非スキャン同期回路で平均41%, 部分スキャン回路で25%削減できた.

• 一般社団法人情報処理学会の論文
• 1996-03-15

著者

• 荻原 拓治

  三菱電機株式会社カスタムLSI 設計技術開発センター

• 村井 真一

  三菱電機株式会社システムlsi開発研究所

• 荻原 拓治

  三菱電機株式会社マイコンasic事業統括部

• 米森 玄一

  三菱電機株式会社システムlsi開発研究所

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