2a-YF-2 走査型アトムプローブによる人工ダイヤモンド内の水素分布の解析
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1998-03-10
著者
-
渡邉 将史
金沢工業大学工学部
-
西川 治
金沢工大・工
-
渡邉 将史
金沢工大・工
-
大谷 佳克
金沢工大・工
-
前田 淳
金沢工大・工
-
関根 隆広
金沢工大・工
-
沼田 喜博
金沢工大・工
-
西川 治
金沢工業大学工学部
関連論文
- 走査型アトムプローブによる電子源材料の原子レベルでの解析
- アトムプローブによる電子材料の原子レベルの解析と3次元走査型アトムプローブの開発
- 25pWB-11 位置感知型イオン検出器を備えた走査型アトムプローブの開発
- 23pW-4 走査型アトムプローブによるカーボンナノチューブの原子レベルの解析
- 走査型アトムプローブの開発と電子源材料の解析
- 27pZ-4 走査型アトムプローブによる炭素材料の解析 : クラスターと構造
- 2a-YF-2 走査型アトムプローブによる人工ダイヤモンド内の水素分布の解析