18aPS-45 Zスキャン法による低次元銅酸化物薄膜の三次非線形感受率の測定
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2001-09-03
著者
-
岡本 博
東大新領域
-
岸田 英夫
東大新領域
-
真子 隆志
NEC基礎研
-
川崎 雅司
CERC
-
十倉 好紀
CERC
-
眞子 隆志
JRCAT
-
真子 隆志
Fundamental Research Laboratories, NEC Corporation
-
前田 充史
東大新領域
-
澤 彰仁
CERC
-
眞子 隆志
Nec基礎研
-
真子 隆志
CERC
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