3a-AD-6 新しい広角形位置敏感X線検出器の開発 I
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
29p-L-11 高計数率マルチワイヤープロポーショナルカウンターの製作
-
29p-L-9 イオン温度計測用高分解結晶分光器の開発II
-
2a-KK-12 X線小角散乱線測定用2次元PSPCシステムの開発
-
12p-T-1 PF精密X線光学実験装置 : I概要
-
31p GK-5 全反射X線の角度分布測定による鏡面の評価
-
12p-T-3 PF精密X線光学実験装置III : SRの偏光度測定と偏光面の回転
-
27p-L-4 放射光X線トポグラフィ装置 I : 設計・製作・立上げと運転
-
2a-NR-1 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像 II
-
2p-N-4 角度分解型平面波X線トポグラフィによる転位像
-
31a-BF-9 Si単結晶中の積層欠陥の平面波X線トポグラフィ
-
10a-Z-5 転位の歪場の表面緩和の平面波X線トポグラフィ
-
12a-Q-5 臭素をドープしたポリアセチレンの偏光依存EXAFS
-
27p-L-1 フォトンファクトリーEXAFS測定装置
-
30a-G-12 臭素をドープしたポリアセチレンのEXAFS
-
27a-SB-22 アモルファスGeTeのEXAFS
-
人工水晶Y-面(01T0)の格子面間隔と格子面方位の変化 II : 欠陥
-
人工水晶Y-面(01T0)の格子面間隔と格子面方位の変化 I : 欠陥
-
1p-YD-7 粉末X線回折から見たCS_2ZnI_4の第I-II相転移II
-
5p-F-8 粉末X線回折から見たCs_2ZnI_4の第I-II相転移
-
31p GK-8 EXAFS迅速測定のための光学及び検出系
-
7a-H-5 時分割X線回折法によるNaNO_2の動的構造解析
-
1p-U-2 一次元SSD(PSSD)の開発(III)
-
1p-AC-4 時分割X線回折法による骨格筋の収縮機構の研究
-
5p-N-10 位置検出器を用いるX線回折による骨格筋の収縮機構の研究
-
7a-H-4 高時間分解能X線回折法
-
17M-6 Si, Ge等の單結晶におけるX線回折像
-
12a-K-10 高歪み感度X線トポグラフィー用三結晶モノクロ・コリメータ
-
4a-KE-7 逆格子点の極く近傍におけるX線熱散漫散乱
-
3a-AD-2 彎曲結晶モノクロメーターの反射曲線の測定
-
30p-P-11 a-Pd_Si_, a-SiO_2の中性子照射による構造変化
-
31aXJ-11 画像処理を用いた X 線回折用試料の外形測定 III : 吸収補正係数の算出への応用
-
29p-P-13 一次元SSDの開発 (II), データ集録系
-
31a-N-3 微小角X線散乱法によるアモルファス及び結晶性物質の研究
-
30p-PSA-67 YBa_2Cu_3O_yへの放射光照射の影響 : 未知相の生成に伴う結晶構造変化とその超伝導性への影響
-
26p-PSA-36 Bi系高温酸化物超伝導体の放射光照射による臨界温度への影響
-
28p-PS-135 Bi系高温酸化物超伝導体の放射光照射による結晶構造変化
-
27p-PS-9 高温酸化物超伝導体への放射光照射の影響
-
2p-N-4 マイクロ・コンピュータによる湾曲型PSPCのデータ処理系
-
28pXP-6 シンチレータNal(Tl)の異常発光現象I(放射線物理)(領域1)
-
27p-PS-10 Bi系高温酸化物超伝導体のSb置換効果
-
MgOの電顕像による電子線の平均および異常吸収係数の測定 : X線電子線
-
MgO電顯像における強度異常 : X. 電子線・X線
-
研究速報 : 超高電圧電顕弱ビーム法による転位バーガースベクトルの決定(2) : Fe-Mn合金の解析
-
2a-BF-14 HVEMを用いた等厚干渉縞からの転位のベーガーズベクトルの決定
-
研究速報 : 超電圧電顕Weak Beam法による転位バーガースベクトルの決定
-
4p-KE-7 中性子のSi単結晶における動力学的回折現象
-
3p-ZA-12 Y-Sr-Ba-Ca-Cu酸化物の超伝導性(II)
-
30a-E-11 RbCu_4I_Cl_のEXAFS
-
3p-UB-7 RbLiSO_4の室温における電場誘起双晶
-
2p-D-5 RbLiSO_4の構造相転移の再吟味
-
2p-D-3 N(CH_3)_4HSO_4の結晶構造I
-
2p-D-2 N(CH_3)_4HSO_4の強誘電性
-
2a-D-2 (NH_2CH_2COOH)_3・H_2ZnCl_4の強誘電性の吟味
-
2p-KN-12 (NH_4)_2SO_4系の新しい物質の強誘電性の吟味
-
粉末X線回折から見たCs2Znl4の相転移
-
Personal Computer を用いたPlD精密温度制御
-
ITVカメラによるワイセンベルグ写真の反射強度測定装置試作 : X線・粒子線
-
2p-N-5 偏光X線の回折による偏光面の回転
-
X線平面波トポグラフィ-における転位像のコンピュ-タ-シミュレ-ション〔英文〕
-
3a-AD-6 新しい広角形位置敏感X線検出器の開発 I
-
31p-BF-9 二次元位置検出器を使用したX線結晶構造解析装置
-
31a-BF-10 ブラッグケースでのわん曲結晶におけるX線波動場の干渉現象
-
10p-Z-1 フォトン・ファクトリー計画の概要
-
5p-L-11 X線回折用二次元検出器
-
フォトン・ファクトリーにおけるX線光学系
-
海外における放射光利用計画および現状 : ―DESY―
-
7a-H-10 OFF-Bragg条件下での転位近傍のX線等原子渉縞の解析的パターン
-
10p-J-2 X線トポグラフにおける二結晶(+, -)非平行配置法の改良
-
2p-A-8 固有波励起のX線波動場のBonseの理論による研究
-
7p-R-12 鯉の脊髄ミエリンの構造
-
Rb6LiSO4とRbLiSO4の物性の比較(1)
-
レーザー顕微鏡を応用した微結晶外形精密自動測定装置の開発とX線構造解析への応用
-
A2BX4型ハロゲン化合物におけるCs2BX4(B=Zn,Co,Hg,Cd.,X:Cl,Br,I)10物質の誘電特性
-
新しいABXY4型の誘電体結晶の育成とそれらの相転移
-
28a-B-9 粉末X線回折から見たCs_2Col_4の55Kまでの結晶構造
-
29a-YD-6 Cs_2BI_4(B=Co, Zn)の低温相の対称性
-
5a-X-12 画像処理を用いた試料の吸収補正システムの開発と結晶構造解析への応用II
-
25a-S-5 画像処理を用いた試科の吸収補正システムの開発と結晶構造解析への応用
-
11a-T-3 弯曲型PSPCの結晶構造解析への応用
-
1a-M-6 湾曲型PSPCのワイセンベルグカメラへの応用
-
1a-M-5 わん曲形PSPCの微小領域X線回折への応用
-
弯曲型位置敏感検出器のワイセンベルグ回折計への応用
-
位置敏感型X線検出器
-
10p-Z-8 X線計測系
-
12a-K-9 X線二結晶法によるSi単結晶中の極微小欠陥の観察
-
8p-D-3 パネルディスカッション : 超強力X線束の発生と応用
-
日本放射光学会創立20周年によせて
-
フォトン・ファクトリー誕生のころ
-
X線スペクトロメーターにより得られる情報 : X線電子線シンポジウム : X線電子回折における動力学的効果
-
13p-H-1 展望
-
5p-O-8 結晶内におけるX線の非彈性散乱
-
4p-O-8 3結晶スペクトロメーターによるX線回折強度曲線の測定
-
Max von Laue: Gesammelte Schriften und Vortrage I, II, III. Frieder Vieweg & Sohn, Braunschweig, 1961.
-
4p-Q-11 鏡面反射の異常強度
-
レーザー顕微鏡を応用した微結晶外形精密自動測定装置の開発とX線構造解析への応用
-
粉末X線回折から見たCs2Znl4の相転移
-
Personal Computerを用いたPID精密温度制御
-
12p-K-5 PSPCのX線回折への応用
-
タイトル無し
-
6aSH-7 画像処理を用いたX線回折用試料の外形測定II(誘電体,領域10)
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク