7a-H-6 中性子トポグラフィによるSi双晶の観察
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1976-09-16
著者
関連論文
- 22pYH-4 極小角中性子散乱法におけるSi光学素子の冷却化の試み
- ラフティング組織変化に基づくNi基超合金単結晶のクリープ損傷評価
- 26a-K-11 LL二片型中性子干渉計実験の試み
- 25a-K-8 中性子極小角散乱によるNi基超耐熱合金のクリープ損傷の観察
- 30p-A-4 中性子干渉計による散乱半径の精密測定
- 中性子小角散乱による熱分解黒鉛の構造評価
- 31p-ZB-11 高速イオン照射された単結晶中の歪分布
- 26a-S-9 単結晶中の歪み分布及び超格子構造によるX線回折パターンの波長依存性
- 30a-P-8 歪んだ結晶からのX線回折の反射面依存性
- 2a-N-1 重イオン照射Si単結晶のXDT観察
- 1p-E-3 Si 単結晶中の不純物原子の析出 (III)
- 9a-D-7 Si単結晶中の不純物原子の析出(II)
- 5a-E-4 Si単結晶中の不純物原子の析出
- 1a-ZB-6 Ni基超合金単結晶の中性子回折トポグラフィによる観察(2)
- 27p-L-8 非対称反射を利用したX線撮影系の分解能チェック
- 27a-Q-11 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定III
- 3a-TA-9 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定 II
- 5a-P-5 重イオン照射Si単結晶のX線二結晶回折法観察I
- 4a-W-11 干渉計を用いた中性子磁気複屈折効果の測定
- 13a-T-1 表面弾性波による中性子回折強度の変化
- 1a-U-4 中性子回折トポグラフィによるCu-14%N_I単結晶の観察
- 29p-T-1 銅合金単結晶の層状構造
- 2p-M-5 銅合金 (ブリッジマン法) の中性子トポグラフィ観察 (その3)
- 3a GD-2 中性子トポグラフィによる大型合金単結晶のCharacterization
- 5p-BK-1 銅合金(ブリッジマン法)の中性子トポグラフィ観察
- 31a-BA-3 Cu-5%Ge単結晶の{100} : 周期構造の中性子回折トポグラフィ観察
- 7a-H-7 プロトン照射されたSi結晶のX線トポグラフ観察
- 7a-H-6 中性子トポグラフィによるSi双晶の観察
- 6a-KE-2 超高圧電子顕微鏡による透過電子線のエネルギー分析
- 3p-KE-6 X線トポグラフィーに便利なチャートの作製
- 23p-N-11 Pyrolutic Graphite のイオン・チャネリング
- 22a-N-11ラング法によるp-irrad. LiFの観察
- 中性子線トポグラフィ
- 合金ガラスFe78B12Si10, Ni78B12Si10の極小角中性子散乱
- 表面弾性波による中性子回折強度の変調
- 中性子極小角散乱
- タイトル無し
- タイトル無し
- 8aSL-2 薄肉型ch-cut Siを用いた中性子極小角散乱装置の特性((中性子),X線・粒子線,領域10)