30p-P-10 TOFによる反跳電子コンプトンプロファイルのX-eX同時計測と多重散乱の影響

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1995-09-12

著者

• 河田 洋

  物構研

• 河田 洋

  KEK-PF

• 桜井 浩

  群大院工

• 櫻井 浩

  群馬大工

• 伊藤 文武

  群馬大工

• 尾崎 誠

  群大工

• 河田 洋

  Kek

• 伊藤 真義

  総研大

• 尾崎 誠

  群馬大工

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