Interlayer Tunneling Spectroscopy and Evidence for the Evolution of a Pseudogap in Bi_2Sr_2CaCu_2O_8
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概要
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We report on interlayer ttrnneling spectroscopy using very thin stacks of intrinsic Josephson.jtrnctions fabricated on the surface of a BizSr3CaCtrzOg single crystal. It is fotrnd that a psettdo-gap evolves beloxv 180 K and continues to exist below T.. It is also fotund that the strperconductinggap evolves beloxv 'T. xvitlain the pseudogap. As a conseqtrence of' this finding, it is shown thatthe sernicondtrctive c-axis resistivity can be interpreted in a straightforxvard manner in terms ofthe psetrdogap and that the tunneling resistance is teraaperature independent.
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1998-03-15
著者
-
Suzuki M
Ntt Basic Research Laboratories Nippon Telegraph And Telephone Corporation
-
KARIMOTO Shin-ichi
NTT Basic Research Laboratories, Nippon Telegraph and Telephone Corporation
-
SUZUKI Minoru
NTT Basic Research Laboratories, Nippon Telegraph and Telephone Corporation
-
NAMEKAWA Kazuichi
NTT Basic Research Laboratories,Nippon Telegraph and Telephone Corporation
-
Suzuki Masuo
Department Of Physics Faculty Of Science The University Of Tokyo
-
鈴木 勝
電気通信大学量子・物質工学科
-
Kubo S
Ntt Basic Research Laboratories Nippon Telegraph And Telephone Corporation
-
Karimoto S
Ntt Basic Res. Lab. Kanagawa Jpn
-
Namekawa Kazuichi
Ntt Basic Research Laboratories Nippon Telegraph And Telephone Corporation
-
Karimoto Shin-ichi
Ntt Basic Research Laboratories
-
Suzuki Minoru
Ntt Basic Research Laboratories
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