高アスペクト比スルーホール内壁の欠陥検査装置
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 公益社団法人精密工学会の論文
- 1995-01-05
著者
-
品田 聡
日立画像情報システム(株)
-
品田 聡
(株)日立画像情報システム
-
原 靖彦
(株)日立製作所生産技術研究所
-
沼田 清
(株)日立製作所神奈川工場
-
原 靖彦
日立製作所生産技術研究所
-
井上 隆一
(株)日立画像情報システム
-
岩田 弘志
日立コンピュータエンジニアリング(株)
-
沼田 清
(株)日立製作所汎用コンピュータ事業部
関連論文
- 高速CD-ROM装置用対物レンズアクチュエータの開発
- 比較検査用基準パターンと配線パターンの形状類似化法
- 骨格線抽出による多層パターンの検査アルゴリズム
- 回路パターン検出信号のモジューレーション補正法
- 低コントラスト信号を含む回路パターン画像の2値化法
- 回路パターン欠陥の致命性判定法
- 設計パターンとの比較による高精度プリント基板パターン検査装置
- プリント基板スルーホールボイド検査装置
- プリント基板パターンの圧縮記憶方式
- パターン外観検査の最新動向
- 検査自動化の現状と最近の動向
- 検査の概要および配線パターンの検査技術
- 高アスペクト比スルーホール内壁の欠陥検査装置
- 外観検査における照明手法 蛍光を利用した画像検出とその応用(外観検査の自動化)
- 新技術開発のチャンス(プレシジョンエンジニアへの期待)(21世紀に向けて)
- 特集「21世紀に向けて」企画にあたって(21世紀に向けて)
- 結像光学入門 : 光学系取扱いの基礎, 松居吉哉・著, 啓学出版・刊, 1988年刊, B5判, 143ページ, 定価1800円
- プリント基板パタ-ンの外観検査自動化
- 2次元カラーコード撮像画像の色彩改善