原 靖彦 | 日立製作所生産技術研究所
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概要
関連著者
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原 靖彦
日立製作所生産技術研究所
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原 靖彦
(株)日立製作所生産技術研究所
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土井 秀明
(株)日立製作所生産技術研究所
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柄崎 晃一
(株)日立製作所コンピュータ事業本部製品企画本部
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品田 聡
日立画像情報システム(株)
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飯田 正
(株)日立製作所汎用コンピュータ事業部
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南谷 法宏
日立画像システム(株)
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野原 稔
日立画像システム(株)
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北村 茂樹
(株)日立画像情報システム
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古谷 貴史
(株)日立画像情報システム
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品田 聡
(株)日立画像情報システム
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南谷 法宏
(株)日立画像情報システム
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沼田 清
(株)日立製作所神奈川工場
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原 靖彦
株式会社日立製作所生産技術研究所
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沼田 清
(株)日立製作所汎用コンピュータ事業部
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中川 泰夫
(株)日立製作所研究開発本部
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野原 稔
日立画像情報システム(株)
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南谷 法宏
日立画像情報システム(株)
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鈴木 洋子
(株)日立製作所生産技術研究所
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二宮 隆典
(株)日立製作所生産技術研究所
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野原 稔
(株)日立画像情報システム
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遠藤 健三
(株)日立製作所神奈川工場
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品田 聡
日立ビデオエンジニアリング(株)
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北村 茂樹
日立ビデオエンジニアリング(株)
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古谷 貴史
日立ビデオエンジニアリング(株)
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井上 隆一
(株)日立画像情報システム
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岩田 弘志
日立コンピュータエンジニアリング(株)
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杉野 廣
川崎製鉄(株)人事部
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中川 泰夫
(株)日立製作所 生産技術研究所
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中川 泰夫
(株)日立製作所
著作論文
- 比較検査用基準パターンと配線パターンの形状類似化法
- 骨格線抽出による多層パターンの検査アルゴリズム
- 回路パターン検出信号のモジューレーション補正法
- 低コントラスト信号を含む回路パターン画像の2値化法
- 回路パターン欠陥の致命性判定法
- 設計パターンとの比較による高精度プリント基板パターン検査装置
- プリント基板スルーホールボイド検査装置
- プリント基板パターンの圧縮記憶方式
- パターン外観検査の最新動向
- 検査自動化の現状と最近の動向
- 検査の概要および配線パターンの検査技術
- 高アスペクト比スルーホール内壁の欠陥検査装置
- 外観検査における照明手法 蛍光を利用した画像検出とその応用(外観検査の自動化)
- 新技術開発のチャンス(プレシジョンエンジニアへの期待)(21世紀に向けて)
- 特集「21世紀に向けて」企画にあたって(21世紀に向けて)
- 結像光学入門 : 光学系取扱いの基礎, 松居吉哉・著, 啓学出版・刊, 1988年刊, B5判, 143ページ, 定価1800円
- プリント基板パタ-ンの外観検査自動化
- 2次元カラーコード撮像画像の色彩改善