イオンビームデポジション(<特集>アトミックルールプロセス)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 公益社団法人精密工学会の論文
- 1990-07-05
著者
関連論文
- 17pYH-10 希薄磁性半導体(GaMn)NにおけるMnの局所構造と電子状態の解析-XAFS測定
- 17pYH-9 GaN:Mn膜の高温磁化過程とその電気伝導
- 17pYH-8 希薄磁性半導体GaMnNの磁気特性
- MBE成長窒化物半導体の表面構造
- 反射高速電子回折で励起した2次電子のスピン計測
- イオンビームデポジション(アトミックルールプロセス)
- 100kV Mott散乱型電子スピン分析器の開発
- RHEED-TRAXS法を用いたGaAs基板清浄化過程の観察
- サマリー・アブストラクト
- エピタキシャル膜の局所的格子変形のX線二結晶トポグラフ法による測定
- アブストラクト
- アブストラクト
- アブストラクト
- アブストラクト
- アブストラクト