物理乱数の一様性の偏りと統計的ゆらぎに関する考察
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概要
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About 1 × 10(9) random digits were generated by a simple electronic device. A statistical frequency test was carried out to check the uniformity of probability that each digit occured. The frequency tests were also applied to many parts of a series of the random digits to examine the local fluctuations of the uniformity. If the physical device has defects, there are biases of the uniformity. On the other hand, even if a sequence of the random digits is an ideal one, it has a distribution of each digit biased by statistical fluctuations. This paper makes the relation between the former and the latter clear.
- 津山工業高等専門学校の論文
- 2000-08-29
著者
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