横型SOI高速ダイオードの逆回復動作におけるダイナミックアバランシェ現象の解析と, その抑制構造の開発
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概要
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- 2012-01-01
著者
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戸倉 規仁
デンソー
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戸倉 規仁
(株)デンソー 幸田製作所 デバイス開発部
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山本 貴生
(株)デンソー
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加藤 久登
(株)デンソー
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中川 明夫
中川コンサルティング事務所
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山本 貴生
(株) デンソー 幸田製作所 半導体プロセス開発部
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戸倉 規仁
(株) デンソー, 幸田製作所, 半導体プロセス開発部
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加藤 久登
(株) デンソー, 幸田製作所, 半導体プロセス開発部
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中川 明夫
合同会社中川コンサルティング事務所
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加藤 久登
(株) デンソー 幸田製作所 半導体プロセス開発部
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山本 貴生
(株) デンソー
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