軟X線フーリエ変換ホログラフィー法とCo/Pt垂直磁化膜の磁気ドメインイメージング
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2009-12-18
著者
関連論文
- 22aPS-22 フーリエ変換ホログラフィーによる磁気ドメイン観察の試行(22aPS 領域5ポスターセッション,領域5(光物性))
- 26pYA-7 XRDをもちいたZnSe/GaAsヘテロエピタキシャル結晶の評価
- 27aXE-9 窒素導入による酸化シリコン膜とシリコン基板の界面構造の変化
- 28p-M-8 シンクロトロン放射光を用いた斜入射X線回折によるBaTiO_3薄膜の表面構造
- 軟X線フーリエ変換ホログラフィー法とCo/Pt垂直磁化膜の磁気ドメインイメージング
- 28p-S-2 極薄シリコンウエハー上に成長させた熱酸化薄膜の構造
- 31a-T-10 熱酸化Si/Si(001)界面遷移相のアニール依存性
- 3. 微少量・高精度・極限に迫る 全反射を利用して超薄膜を調べる
- 放射光全反射蛍光分析による汚染形態評価
- タイトル無し