高破壊耐量5世代平面IGBT
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概要
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- 2001-10-26
著者
-
日根 史郎
三菱電機株式会社 LSI研究所
-
守谷 純一
三菱電機ULSI技術開発センター
-
守谷 純一
三菱電機株式会社 パワーデバイス製作所
-
高梨 健
三菱電機株式会社 パワーデバイス製作所
-
守谷 純一
三菱電機
-
山下 潤一
三菱電機
-
日根 史郎
三菱電機
-
日根 史郎
三菱電機(株)
-
高梨 健
三菱電機
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