陰イオン交換/テノイルトリフルオロアセトン抽出/蛍光光度法による半導体用エポキシ樹脂中微量ウランの定量
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概要
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陰イオン交換とテノイルトリフルオロアセトン(TTA)抽出を蛍光光度法と組み合わせて, 半導体用エポキシ樹脂中微量ウランの定量法を確立した.本法の操作の概要は次のとおりである.1)試料10gを800℃で分解した後, 残査をフッ化水素酸と塩酸で化学処理する.2)残査を炭酸ナトリウムと炭酸カリウムで融解する.3)試料溶液(8N塩酸)を陰イオン交換樹脂(ムロマック1-X8)を充填したカラムに流してウランを樹脂に吸着した後, ウランを0.5N塩酸で溶出する.4)溶出液のpHを約7に調整した後, 0.2MTTA/ベンゼンでウランを抽出し, 有機層を逆抽出して得た水層を乾固する.5)混合融剤(フッ化ナトリウム+炭酸ナトリウム+炭酸カリウム)を加えて融解する.得られたケーキを用い, 蛍光光度法によってウランを定量する.本法は半導体用エポキシ樹脂中のppbレベルのウランを分析することができる.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 2005-11-05
著者
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