プロファイル解析による積層不整の研究

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概要

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• Computer simulation method of powder diffraction profile from the specimen with planer defects such as stacking faults and intergrowth is reviewed. The matrix method, introduced by Hendricks and Teller and developed to the general solution method by Kakinoki and Komura, is summarized, and transformation into the powder pattern profile is presented in outline. Probability matrices of layer sequences and calculated profiles using the matices are reported for several examples, SiC, Li-Mn-oxide, Cu<SUB>3</SUB>GdS<SUB>3</SUB> and Bi<SUB>1.83</SUB>Sr<SUB>1.80</SUB>Ca<SUB>1.78</SUB>Cu<SUB>3</SUB>O<SUB>y</SUB>.

• 日本結晶学会の論文
• 2004-12-24

著者

• 小野田 みつ子

  物質・材料研究機構物質研究所

• 小野田 みつ子

  物質･材料研究機構物質研究所

• 小野田 みつ子

  物質・材料研究機構

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