X線による薄膜の深さ方向応力分布測定(平面応力状態への適用)
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概要
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- 日本非破壊検査協会の論文
- 1993-01-20
著者
-
佐々木 敏彦
金沢大学大学院自然科学研究科
-
吉岡 靖夫
武蔵工業大学工学部エネルギー基礎工学科
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吉岡 靖夫
武蔵工業大学
-
佐々木 敏彦
金沢大
-
倉元 眞實
職業訓練大学校
-
佐々木 敏彦
職業訓練大学校
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