走査トンネル顕微鏡, 原子間力顕微鏡およびフーリエ変換赤外分光法による水素終端シリコン表面の分析
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概要
著者
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坂上 弘之
広島大学大学院先端物質科学研究科量子物質科学専攻
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高萩 隆行
広島大学大学院先端物質科学研究科量子物質科学専攻
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坂上 弘之
広島大学工学部
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高萩 隆行
広島大学工学部
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高萩 隆行
広島大学大学院先端物質科学研究科
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