トレンド除去信号を用いたベーズの統計量推論によるプロセス異常信号の検出法
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概要
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逐次最尤推定法とベーズの統計量推論を用いたプロセス異常信号検出法は自己回帰モデルの次数の選定に煩雑さがあった.そこで, プロセス信号のトレンド成分を1回差分により除去し, その信号を用いてベーズの統計量推論を行う手法を開発した.本手法の有効性を確認するため, 直鎖状低密度ポリエチレン製造装置での触媒供給流量異常信号の検出に適用した.その結果, プロセス異常信号の検出に有効であることがわかった.
- 社団法人 化学工学会の論文
- 1998-09-10
著者
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花熊 克友
出光エンジニアリング(株)
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山本 順三
出光エンジニアリング(株)エンジニアリング室
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中西 英二
関西大学工学部化学工学科
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中西 英二
関西大学工学部 化学工学科
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山本 順三
出光ニンジニアリング(株)技術部
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