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School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University | 論文
- 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
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- ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
- IMG-06 DEVELOPMENT OF AN ELECTROPHOTOGRAPHIC LASER INTENSITY MODULATION MODEL FOR EXTRINSIC SIGNATURE EMBEDDING(Imaging and Printing Technologies II,Technical Program of Oral Presentations)
- Low-Voltage Optical Fiber Switch
- ショーパスディレイ : 故障モデルとテスト生成
- パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
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- ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
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- トランジション故障に対するテストパターンの極小化手法について
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- LC-3 テストパターン中の特定ビットにおけるドントケア判定法について(C. アーキテクチャ・ハードウェア)
- On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits(Dependable Computing)
- 論理回路における遅延テスト不要パスの高速導出法 (テストと設計検証論文特集)
- パス遅延故障のテストのためのロバスト依存パスの識別法
- Statistical Estimation of CMOS Circuit Activity under Probabilistic Delays (Special Section on VLSI Design and CAD Algorithms)
- Computational Paradigms in Nanoelectronics: Quantum Coupled Single Electron Logic and Neuromorphic Networks
- Don't Care Identification and Statistical Encoding for Test Data Compression(Test Generation and Compaction)(Test and Verification of VLSI)