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JRCAT-NAIR | 論文
- 小型走査電子顕微鏡用カーボンナノチューブ電子銃の安定性評価
- 走査プローブ顕微鏡による表面原子・分子化学分析
- 原子操作と識別技術
- 探針に吸着させた原子種の同定
- 25p-YM-3 原子操作によりSiを捕獲したSTM探針のFIM観察
- 6p-B-12 原子操作によるタングステンシリサイド形成
- 30p-E-10 Asを高ドープしたSi(001)の表面構造
- タングステン上の重水素の吸着
- 1p-M-5 STMによる原子スケール塑性現象 : ステップ形成のメカニズム
- 14a-W-2 Bi-2223薄膜の変調構造
- 6a-T-10 有機物質のSTM測定(IV)
- 3a-W-9 リボソーム膜レプリカ微細構造のSTM観察像
- 3a-B4-10 有機物質のSTM測定(III)
- 3a-B4-2 トンネル顕微鏡用探針
- 走査トンネル顕微鏡によるシリコン固相エピタキシー過程の観察
- 27a-PS-35 Se吸着GaAs(111)A-(2√×2√)-R30°表面再配列構造
- 30a-PS-32 超音速パルス分子線散乱装置の基本特性
- 4a-M-11 STMによる有機超伝導体の観察IV
- 5p-ZB-15 低温STMによる単結晶酸化物超伝導体のトンネル分光
- STM/STSにおける画像処理