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Dept. of Electronic and Electrical Engineering, Pohang University of Science and Technology | 論文

• RF Characteristics for 70nm MOSFETs below 77K (Electron devices: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
• RF Characteristics for 70nm MOSFETs below 77K (Silicon devices and materials: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
• Junction Depth Dependence of the Gate Induced Drain Leakage in Shallow Junction Source/Drain-Extension Nano-CMOS
• Effect of bias sweep on pentacene thin film transistor (Electron devices: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
• Effect of bias sweep on pentacene thin film transistor (Silicon devices and materials: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
• Effects of O_2 Plasma Treatment on the Reliabilities of Metal Gate/High-k Dielectric MOSFETs

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