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電気通信大学 電気通信学部 電子工学科 | 論文
- ナノスケール高信頼性LSIの寿命分布 : 故障物理からのバスタブ曲線の考察(故障物理と信頼性)
- RDT研究会の紹介と活動報告
- 炭素の異常磁気抵抗の解釈
- 炭素材料のホール効果のドーピング依存の解釈
- グラファイトのホール効果とバンド パラメータの評価法
- 3a GE-12 BPの熱電能 I
- Er_xY_SiO_5光導波路の作製と評価 : シリコンフォトニクス用小型光増幅器の開発(光パッシブコンポネント(フィルタ、コネクタ、MEMS),シリコンフォトニクス,光ファイバ,一般)
- シリコンを光らせるにはどうすればよいのか--さまざまな発光機構とそれぞれの特徴 (特集 シリコンを光らせる)
- スプレーCVD法によるEr_2SiO_5結晶薄膜の作製と評価(光パッシブコンポーネント(フィルタ,コネクタ,MEMS),シリコンフォトニクス,光ファイバ,一般)
- シリコン発光デバイス : 現状と展望
- シリコンをベースとする発光デバイス : 現状と展望
- 高信頼性半導体デバイスの寿命分布と故障メカニズム
- 原子層成長による原子層フラクタル超格子の作製と評価
- 半導体デバイスの信頼性物理の歴史と将来
- 地震の前兆現象に伴うULF放射のフラクタル解析
- 地震に伴う電離層擾乱の変動解析
- 地震の前兆現象に伴うULF放射のフラクタル解析とウェーブレット解析
- 地震ULF放射のフラクタル解析(その2)及びウェーブレット解析
- 地震および地磁気変動とTECとの相関について
- B-2-21 鳥取県西部地震における電離層総電子数の観測