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福岡工業大学電気工学科 | 論文
- Javaによる非線形拡散方程式(解離機構・kick-out機構)の数値解
- 27aRB-5 Si中過飽和高温置換Au回復過程で発生するAu集合体中のAu原子数分布(27aRB 格子欠陥・ナノ構造(半導体・シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 点欠陥が関与する位置交換型不純物拡散の数値解法とSi中Au拡散に対する計算例
- 28pXD-4 Si中過飽和高温置換Au回復過程でのAu集合体のSIMS観測(28pXD 格子欠陥,ナノ構造(半導体・炭素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 31pYG-9 Si 中低温置換金回復に関与する欠陥
- 800℃と900℃でのシリコン中金拡散の本質的相違と900℃拡散での点欠陥の寄与
- 17pTG-6 850℃上下温熱処理によるシリコン中金濃度分布の本質的相違
- 24pY-7 シリコン中過飽和置換金原子の外方拡散プロフィル
- 点欠陥が関与するSi中Au拡散数値解における各定数と境界および初期条件
- Improvement in Sensitivity for Brief Measurement of Diffusion Profiles ofDeep Impurities in Semiconductors Based on a Capacitance Measurement on an Angle-Lapped Surface
- チョッパ制御時における直流機の端子間等価自己インダクタンス
- プラトンの著作に見る技術の概念
- Steady-State Analysis of DC Series Motor Fed by a Current-Limit Controlled Chopper--Non-Liner Model
- 直流電車を限流加速始動する時の始動器の段付け及び主電動機の応答の計算