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理学電機(株) | 論文
- 透過X線回折による錠剤中の擬似結晶多形の非破壊的評価
- 深さ方向の歪み場によるX線回折強度
- X線非対称反射を用いたZnSe/GaAsの膜厚精密決定
- 4p-X-8 吸収端近傍における異常散乱因子II
- 29a-YM-9 吸収端近傍における異常散乱因子
- 29a-YM-8 X線多重反射を用いた異常散乱因子の決定
- 31p-ZB-11 高速イオン照射された単結晶中の歪分布
- X線異常散乱データに基づいた液体CuBrの有効2体ポテシャルの導出
- X線異常散乱法による溶融CuBrの部分構造の分離導出
- 1G22 250℃以下での結晶性酸化亜鉛の低温合成 : 高湿度雰囲気中での酢酸亜鉛の熱分解
- 1I08 セラミックス合成プロセス解明への TG-MS, XRD-DSC の応用 : 酢酸セリウムの熱分解挙動
- 3A03 ダイナミック TG-MS による脱バインダ初期の急激な発熱原因物質の解明および発熱低減方法
- 1p-YL-1 SPring-8におけるX線偏光素子の開発
- 2a-YF-13 X線反射率測定によるMBE-ZnSe/GaAs(001)ヘテロ界面の評価
- 4a-W-9 フォトンカウンティング法による氷単結晶からの回折強度のゆらぎの測定 : 交流電場による影響
- 30a-P-8 歪んだ結晶からのX線回折の反射面依存性
- 30a-P-3 ロッキングカーブの精密測定によるGe, GaAsの異常散乱因子の決定
- 11a-P-5 比例計数管による直接法X線蛍光分析
- 31p-E-2 Maximum-entropy法によるFe-Si系化合物の電子密度分布
- 示差走査熱量計(DSC)による精密純度測定法