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東京工業大学総合分析支援センター | 論文
PZT薄膜の90°ドメイン構造のTEM観察と強誘電特性
3D03 加熱 TEM 観察による PZT 薄膜の結晶成長に及ぼすシード層の効果の解明
1D23 加熱 TEM 観察による YSZ/SiOx/Si 薄膜における SiOx 層の還元過程の解明
3D04 CeO_2/ZrO_2/Si 多層膜界面構造の HRTEM 観察
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