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東レエンジニアリング(株)エレクトロニクス事業本部開発センター | 論文
- 単色光干渉法による透明膜に覆われた物体の膜厚と表面形状の同時測定
- 2波長ワンショット干渉計測(ViEW推薦論文)
- 透明膜で覆われた物体のワンショット干渉計測法
- 表面形状精密測定のための2波長ワンショット干渉法
- 白色光干渉法による透明膜に覆われた物体の膜厚と表面形状の同時測定
- Active Learning for Maximal Generalization Capability (Applications of the theory of reproducing kernels)
- 二値回帰問題のための新しいカーネルの提案
- D-11-97 劣化した印刷画像の画質改善
- D-2-6 訓練入力に雑音が含まれる場合の汎化誤差の推定
- 2波長ワンショット干渉計測
- 2波長ワンショット干渉計測 (特集 優れた画像処理研究に触れる--ViEW2007より)
- 標本化定理と染谷 勲
- AP-6-1 標本化と量子化(AP-6.信号・画像の離散化、特に量子化法についての討論-OK量子化理論とその展望-,パネル討論,ソサイエティ企画)
- アインシュタインの心
- 関数解析的学習理論 (函数解析学と数理情報の接点)
- D-2-2 モデル選択基準Corrected Subspace Information Criterionの理論的性能評価
- FA 信号処理に一般標本化定理を応用した光干渉式高速表面形状測定装置
- 信号処理に帯域通過型標本化定理を応用した光干渉式高速表面形状測定装置
- Subspace Information Criterionによる画像復元フィルタのパラメータ最適化
- 標本点とモデルの同時最適化