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日本電子(株) | 論文
- 5p-X-3 カーボンナノチューブの筒状構造の3次元的直接観察
- 5p-X-1 カーボンナノチューブの電子顕微鏡内変形の高分解能その場観察
- 表面のナノオーダ観察・分析
- 集束イオンビームによるイオン注入(アトミックルールプロセス)
- 低エネルギ-集束イオンビ-ム装置
- 集束イオンビーム描画装置用高圧電源
- 集束イオンビ-ムリソグラフィ- (ULSIリソグラフィ-への挑戦) -- (光に代る新技術の展望)
- STM探針をプローブとしたオージェ電子分光法の開発
- Si(001)表面におけるアンモニア吸着過程の第一原理分子動力学シミュレーション
- X線光電子分光法によるウルシ膜の表面構造の解析
- X線光電子分光法におけるC1sスペクトル波形解析によるダイヤモンド薄膜の評価
- 分析電子顕微鏡における試料汚染の改善
- 6極子によるTEMの球面収差補正
- 観察装置としての集束イオンビームの応用
- 581 相分析の岩石学への応用(深成岩)
- 四国三波川帯におけるざくろ石を置換した不均質な緑泥石 : 深成岩および変成岩
- 三波川変成帯中のAb Spotの累帯構造と形成時期 : 深成岩および変成岩
- 三波川変成作用時におけるhematite-bearing basic schistsの相平衡. : 深成岩および変成岩
- 四国中央部三波川帯汗見川地域の分布する塩基性片岩の累進変成作用 : 深成岩および変成岩
- 四国三波川変成帯の累進変成作用に伴うCa-amphibolesの組成変化 : 深成岩および変成岩